封入
Chinese
to confer; to grant; to seal to confer; to grant; to seal; (a measure word) |
to enter | ||
|---|---|---|---|
| trad. (封入) | 封 | 入 | |
| simp. #(封入) | 封 | 入 | |
Pronunciation
- Mandarin
- (Standard Chinese)+
- Hanyu Pinyin: fēngrù
- Zhuyin: ㄈㄥ ㄖㄨˋ
- Tongyong Pinyin: fongrù
- Wade–Giles: fêng1-ju4
- Yale: fēng-rù
- Gwoyeu Romatzyh: fengruh
- Palladius: фэнжу (fɛnžu)
- Sinological IPA (key): /fɤŋ⁵⁵ ʐu⁵¹/
- (Standard Chinese)+
- Cantonese
- (Standard Cantonese, Guangzhou–Hong Kong)+
- Jyutping: fung1 jap6
- Yale: fūng yahp
- Cantonese Pinyin: fung1 jap9
- Guangdong Romanization: fung1 yeb6
- Sinological IPA (key): /fʊŋ⁵⁵ jɐp̚²/
- (Standard Cantonese, Guangzhou–Hong Kong)+
Verb
封入
- to enclose (in a letter)
Descendants
Japanese
| Kanji in this term | |
|---|---|
| 封 | 入 |
| ふう Grade: S |
にゅう Grade: 1 |
| on'yomi | |
Noun
Verb
封入する • (fūnyū suru) ←ふうにふ (fuunifu)?suru (stem 封入し (fūnyū shi), past 封入した (fūnyū shita))
Conjugation
| Katsuyōkei ("stem forms") | |||
|---|---|---|---|
| Mizenkei ("imperfective") | 封入し | ふうにゅうし | fūnyū shi |
| Ren’yōkei ("continuative") | 封入し | ふうにゅうし | fūnyū shi |
| Shūshikei ("terminal") | 封入する | ふうにゅうする | fūnyū suru |
| Rentaikei ("attributive") | 封入する | ふうにゅうする | fūnyū suru |
| Kateikei ("hypothetical") | 封入すれ | ふうにゅうすれ | fūnyū sure |
| Meireikei ("imperative") | 封入せよ¹ 封入しろ² |
ふうにゅうせよ¹ ふうにゅうしろ² |
fūnyū seyo¹ fūnyū shiro² |
| Key constructions | |||
| Passive | 封入される | ふうにゅうされる | fūnyū sareru |
| Causative | 封入させる 封入さす |
ふうにゅうさせる ふうにゅうさす |
fūnyū saseru fūnyū sasu |
| Potential | 封入できる | ふうにゅうできる | fūnyū dekiru |
| Volitional | 封入しよう | ふうにゅうしよう | fūnyū shiyō |
| Negative | 封入しない | ふうにゅうしない | fūnyū shinai |
| Negative continuative | 封入せず | ふうにゅうせず | fūnyū sezu |
| Formal | 封入します | ふうにゅうします | fūnyū shimasu |
| Perfective | 封入した | ふうにゅうした | fūnyū shita |
| Conjunctive | 封入して | ふうにゅうして | fūnyū shite |
| Hypothetical conditional | 封入すれば | ふうにゅうすれば | fūnyū sureba |
¹ Written imperative
² Spoken imperative
References
- “封入”, in 漢字ぺディア [Kanjipedia][1] (in Japanese), The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation, 2015–2026